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薄膜導(dǎo)熱測(cè)試儀作為測(cè)量薄膜材料熱物性的關(guān)鍵設(shè)備,其測(cè)量原理的多樣性為科研人員提供了全面的解決方案。薄膜材料在微電子、光電子、能源等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,其導(dǎo)熱性能直接影響器件性能和可靠性。本文將深入探討薄膜導(dǎo)熱測(cè)試儀的多種測(cè)量原理及其應(yīng)用。
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